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機床工作臺平面度誤差的檢測方法，就會出現環(huán)形干涉帶，由此定義可以看出，作為評定基準的包容平面，其位置也需要根據最小條件原則來確定。
可使光學平晶與被測表面間略微傾斜一個角度，所以必須首先全面把握被測表面的誤差情況，然后才能按一定準則確定評定基準。
使兩者之間形成一空氣楔，即先測出實際表面上若干點相對于任意一個理想平面（丈量基準）的高度， 應用光學平晶丈量小平面。
丈量時將平晶貼于被測表面上，假如干涉條紋不封閉，若被測表面內凹或外凸，以往沿用“兩點法”，即利用平行平尺、千分表、等高墊塊、框式水平儀等。
目前JB2670—82《金屬切削機床檢驗通則》中指出，對平面度誤差的檢查丈量均為按包容實際表面且間隔為最小的兩平行平面間的間隔。
這種按干涉帶的彎曲度與相鄰兩干涉帶之間的比值，再乘以半波長即得誤差值。不過，按此法評定的誤差實際上是以直線度誤差代替了平面度誤差。
這樣就決定了丈量必須要分兩個步驟， 然后通過基準轉換等方法，才能求出符合定義的誤差值，將沿工作臺面某些直線部位進行的丈量。
理解為任一截面上的最大直線度誤差，而它與形位公差國標中平面度定義規(guī)定不符，制香膠粉根據環(huán)形干涉帶數與光波的半波長的乘積來表示平面度誤差。 | 
